Markalama kontrastı ve yapışma ölçümü için Cpk ve Gage R&R

Markalama kontrastı ve yapışma ölçümü için Cpk ve Gage R&R

Temel çıkarımlar

• Prosesten önce ölçümü nitelendirin. Yetersiz bir ölçüm cihazıyla hesaplanan yeterlilik indeksi bilgi değil, aritmetiktir.
• Tahribatlı testler eşleştirilmiş numune tasarımları gerektirir, çünkü aynı numune iki kez ölçülemez.
• Nitel (attribute) yöntemlerin kendi uyum çalışması vardır: sınıflandırma şemaları da birer ölçüm cihazıdır.
• Yeterlilik, kararlılığı varsayar. Cpk'yı kontrol altındaki bir proses üzerinde hesaplayın; aksi halde sayı tekrarlanabilir hiçbir şeyi tanımlamaz.

Dekorasyon ve markalama proseslerindeki yeterlilik çalışmaları çoğu zaman özenle yapılır ve yanlış yorumlanır, çünkü bir adım atlanır. Ölçüm sisteminin yeterli olduğu varsayılır, yeterlilik gözlenen değişimden hesaplanır ve hayal kırıklığı yaratan bir indeks prosese atfedilir. Çoğu zaman bu değişimin büyük bölümü ölçüm cihazına aittir.

Gözlenen değişimin iki kaynağı vardır

Her ölçüm, proses değişimi ile ölçüm değişimini birlikte içerir. Ölçümün toplam içindeki payı büyük olduğunda birkaç pratik sonuç hemen ortaya çıkar: yeterlilik indeksleri kötümser çıkar, kabul edilebilir parçalar reddedilir ve kabul edilemeyenler kabul edilir, proses değişiklikleri güvenilir biçimde tespit edilemez ve gürültü baskın olduğu için prosese yönelik iyileştirme çabası görünür sonuç üretmez.

Bu ayrımı belirlemek ölçüm sistemi analizinin amacıdır ve bunu önce yapmak, sonraki çalışmanın ne olması gerektiğini değiştirir. Ölçümü toleransın büyük bölümünü tüketen bir prosesin henüz bir proses sorunu yoktur; bir metroloji sorunu vardır ve bunu düzeltmek genellikle daha ucuzdur.

Tahribatlı test sorunu

Standart gage tekrarlanabilirlik ve yeniden üretilebilirlik çalışmaları, aynı parçanın birkaç kez ölçülmesine dayanır. Yapışma testi numuneyi yok eder, dolayısıyla tasarımın değişmesi gerekir.

Olağan yaklaşım eşleştirilmiş numunelerdir: ulaşılabilecek en özdeş koşullar altında art arda üretilen parçalar nominal olarak eşdeğer numuneler grubu olarak ele alınır ve analiz, grup içi değişimi operatörler ve gruplar arası değişimle karşılaştırır. Grup içindeki eşdeğerlik varsayımı yük taşıyıcıdır ve içindeki gerçek parçadan parçaya değişim ölçüm sistemine atfedilir.

Bu, saklanmak yerine belirtilmesi gereken bir sınırlamadır. Tahribatlı test gage çalışmalarının ölçüm değişimi için kesin bir değer değil bir üst sınır belirlediği anlamına gelir; bu yine de yararlıdır: üst sınır kabul edilebilirse ölçüm yeterlidir.

Nitel yöntemler de ölçüm cihazıdır

Yapışma sınıflandırma şemaları ve görsel markalama değerlendirmeleri birer ölçüm sistemidir ve aynı incelemeyi hak eder. Bir nitel uyum analizi, değerlendiricilere kabul sınırını kapsayan bir parça setini rastgele sırayla tekrarlayarak sunar ve her değerlendiricinin tekrar sunumda kendisiyle ve diğer değerlendiricilerle uyuşup uyuşmadığını kaydeder.

Sınırda parçalardaki sonuçlar rutin olarak beklenenden daha kötüdür ve kabul kararlarının verildiği bölge tam olarak burasıdır. Uyumun zayıf olduğu yerlerde düzeltici seçenekler; daha iyi referans standartları, daha net sınıflandırma kriterleri, bilinen numunelere karşı eğitim veya nitel yöntemin ölçüm cihazlı bir yöntemle değiştirilmesidir.

Belirli ölçümler

Markalama kontrastı. Koşullar sabitlendiği sürece ölçüm cihazlı ölçüm yeniden üretilebilirdir: cihaz tipi, aydınlatma geometrisi, açıklık ve markalamaya ve tanımlı bir arka plan referansına göre ölçüm konumu. Yüzey dokusu, eğrilik ve parlaklık okumaları etkiler; bu nedenle üç boyutlu markalanmış yüzeyleri olan parçalar, yöntemin bir parçası olarak tanımlı bir fikstürleme düzenine ihtiyaç duyar.

Kod doğrulama. Tanınmış bir standarda göre makine tarafından okunabilir kod derecelendirmesi, standartlar açıklığı, dalga boyunu ve geometriyi sıkı biçimde belirttiği için bu alandaki daha iyi davranan ölçümlerdendir. Tekrarlanabilirlik genellikle iyidir; farklı doğrulayıcı modelleri arasındaki yeniden üretilebilirlik daha az iyidir; bu nedenle şartname ekipman sınıfını adlandırmalıdır.

Yapışma. Bant ve çapraz kesim yöntemleri; bant partisine, uygulama basıncına, bekleme süresine ve sıyırma hızı ile açısına duyarlıdır. Çekme testi daha nicel olmakla birlikte dolly hizalamasına, yapıştırıcı kürlemesine ve yükleme hızına duyarlıdır. Her ikisi de operatör tekniğini sonuçtan çıkaran fikstürlemeden önemli ölçüde yararlanır.

Yüzey enerjisi. Dyne testi hızlı, ucuz ve teknik ağırlıklıdır: mürekkep yaşı, uygulanan miktar, okuma aralığı ve bir filmin ne zaman koptuğuna dair operatörün yargısı yanıtı kaydırır; mürekkep setinin kademeli yapısı da çözünürlüğü sınırlar. Yüzey enerjisinin dar pencereli kontrollü bir parametre olduğu yerlerde, temas açısı cihazları dyne mürekkeplerinin veremeyeceği çözünürlük ve tekrarlanabilirlik sağlar.

Yeterlilik önce kararlılık gerektirir

Kararsız bir proses üzerinde hesaplanan yeterlilik indeksi bir prosesi değil, durumların bir karışımını tanımlar ve gelecekteki çıktıyı öngörmez. Ölçümü bir dönem boyunca kontrol kartına almak ve kaymaların, eğilimlerin ve özel nedenlerin bulunmadığını doğrulamak, bir inceltme değil bir ön koşuldur.

Dağılım şekli de önemlidir. Yapışma ve kontrast verileri sıklıkla çarpık veya sınırlıdır (bir sınıflandırma ölçeğinin tavanı vardır, kontrastın fiziksel sınırları vardır) ve güçlü biçimde normal olmayan verilere uygulanan normal teori indeksleri her iki yönde de önemli ölçüde yanlış olabilir. Herhangi bir şey hesaplamadan önce veriyi çizmek, mevcut en ucuz güvencedir.

Buradaki gereksinimlerin çoğu tek taraflıdır: bir asgarinin üzerinde kontrast, bir eşiğin üzerinde yapışma, bir seviyenin üzerinde yüzey enerjisi. Uygun tek taraflı indeks geçerlidir ve uydurma bir üst sınıra göre hesaplanmış iki taraflı bir rakam raporlamak yerine hangi sınırın değerlendirildiğini açıkça belirtmeye değer.

Zayıf bir sonuçla ne yapılır

Zayıf bir yeterlilik sonucunun üç olası sahibi vardır ve analiz hangisi olduğunu belirlemelidir. Ölçüm değişimi baskınsa ölçümü iyileştirin: fikstürleme, yöntem disiplini, daha iyi cihazlar, eğitim. Proses ortalaması sınıra yakınsa ortalayın; bu genellikle üçünün en ucuzudur. Proses değişimi gerçekten genişse kaynaklar bulunmalıdır ve bu prosesler için bunlar tipik olarak malzeme parti değişimi, işlem kapsamı ve tutarlılığı, parçadan parçaya geometri farkları ve bakım aralıkları arasındaki kaymadır.

Bu üç durumu birbirinden ayırmak, ölçüm analizini önce yapmanın tüm değeridir. Onsuz her zayıf yeterlilik sayısı aynı tepkiyi üretir: prosesi sıkılaştırmak; ve zamanın kabaca üçte birinde bu tepki yanlış şeye yöneliktir.

Değişimin gerçek kaynaklarını yansıtan numune alma

Bir yeterlilik çalışması, içine giren parçalar kadar temsilidir ve dekorasyon hatlarındaki çalışmalar sıklıkla tek bir üretim çalışmasında, tek bir reçine partisinden, tek bir vardiyada, tek bir operatörle, tek bir haftada yürütülür. Ortaya çıkan indeks prosesi değil, o çalışmayı tanımlar.

Bu hatlarda gerçekten önemli olan değişim; reçine ve renklendirici partileri arasında, çok gözlü bir kalıptaki gözler arasında, fikstür konumları arasında, vardiyalar ve operatörler arasında ve bakım aralıkları boyunca yatar. Bu kaynakları bilinçli olarak kapsayan bir numune alma planı gelecekteki çıktıyı öngören bir yeterlilik rakamı verir; hepsini sabit tutan ise yeniden üretilemeyecek iyimser bir sayı verir.

Pratik yaklaşım, rasyonel alt gruplama şemasıdır: kısa vadeli değişimi yakalayacak sıklıkta alınan küçük alt gruplar, parti ve bakım döngülerini içerecek kadar uzun bir dönem boyunca. Tek çalışmalı bir araştırmadan daha uzun sürer ve bir karara dayanak olan sayı ile bir rapora dayanak olan sayı arasındaki farkı yaratır.

İlgili okumalar

• Uygulanabilir bir şartname yazmak
• Lazer markalama için IQ, OQ ve PQ
• Bir şartnamenin karşılandığını kanıtlamak
• Dyne testi ve yüzey enerjisi
• Markalama veya dekorasyon hattı için FMEA

Bu konuda yardıma mı ihtiyacınız var?

The Sabreen Group, dekorasyon operasyonları için ölçüm sistemi analizi ve proses yeterlilik çalışmaları konusunda bağımsız mühendislik desteği sunar. Mühendislik hizmetleri ekibimiz üreticilerle proses geliştirme, malzeme nitelendirme ve üretim sorun giderme alanlarında çalışır. Uygulamanızı görüşmek için bizimle iletişime geçin.

Sık sorulan sorular

Ölçüm sistemi analizi neden yeterlilikten önce gelir?

Çünkü gözlenen değişim, proses değişimi ile ölçüm değişiminin toplamıdır. Ölçüm sistemi toleransın büyük bir payını oluşturuyorsa, hesaplanan yeterlilik indeksi çoğunlukla ölçüm cihazını tanımlar ve prosese yönelik iyileştirme çabaları onu kıpırdatmaz. Ölçümü önce nitelendirmek, gerçekte hangi soruna sahip olduğunuzu söyler.

Tahribatlı testte gage R&R nasıl yapılır?

Tekrarlanan ölçüm yerine eşleştirilmiş numuneler kullanılarak. Özdeş koşullar altında art arda üretilen parçalar nominal olarak özdeş kabul edilir ve analiz grup içi ile operatörler arası değişimi karşılaştırır. Grup üyelerinin eşdeğer olduğu varsayımı gerçek bir iş yapar ve belirtilmelidir; çünkü grup içindeki parçadan parçaya değişim ölçüm değişimi olarak görünür.

Görsel sınıflandırma yöntemleri bu işleme ihtiyaç duyar mı?

Evet. Çapraz kesim yapışma derecelendirmesi gibi bir sınıflandırma şeması bir ölçüm cihazıdır ve nitel uyum analizi, değerlendiricilerin birbirleriyle ve tekrar bakışta kendileriyle uyuşup uyuşmadığını belirler. Sınırdaki parçalarda anlaşmazlık oranları sıklıkla yüksektir ve yöntem kabul için kullanılmadan önce bilinmeye değerdir.

Yüzey enerjisi ölçümünü nitelendirmeyi zorlaştıran nedir?

Dyne testi hızlıdır ve tekniğe bağlıdır: mürekkep yaşı, uygulama miktarı, okuma süresi ve operatör yargısı sonucu kaydırır; ölçüm sürekli değil kademelidir ve bu da çözünürlüğü sınırlar. Temas açısı cihazları, uygulamanın bunu haklı çıkardığı yerlerde daha iyi çözünürlük ve tekrarlanabilirlik sağlar.

Cpk tek taraflı bir şartname için anlamlı mıdır?

Evet, ilgili tek taraflı indeks kullanılarak; çünkü markalama ve yapışma gereksinimlerinin çoğu yalnızca asgaridir: bir eşiğin üzerinde kontrast, bir değerin üzerinde yapışma. Daha önemlisi prosesin kararlı olması ve dağılımın anlaşılmasıdır; zira yapışma ve kontrast verileri sıklıkla çarpıktır ve normal tabanlı indeksler yanıltabilir.

---